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2026-02-05 50112355

蔡司METROTOM1500:第三代CT系统,具备更快扫描、更多洞悉,可测更大工件的无损检测利器

产品介绍

蔡司METROTOM1500高精度CT技术助力产业效益需求

详细说明

<p>蔡司METROTOM1500</p> <p>第三代计算机断层成像(CT)系统-蔡司METROTOM1500证明了先进可靠的</p> <p>X射线技术不再是愿景。今天,您可以使用面向未来的无损质量检测技术。</p> <p>更快的扫描进助探测器的不同操作模式,扫描时间可很大减少,同时获取与2K探测墨相当的体素尺寸。</p> <p>更多的洞悉在第三代系统中,新的3K探测器可生成更高分辨率的3D体积数据集,即更多体素可检测到更小的缺陷。</p> <p>2K探测器的体素尺寸(应用样例)79.4 um</p> <p>3K探测器的体素尺寸(应用样例)57.9 um</p> <p>METROTOM</p> <p>由于3K探测器具有更高的分辨率,因此可观察到更小的细节。</p> <p>更大工件的扫描|为了最大眼度地利用测量实验室的空间,扩大了测量空间范围,同时减少了占用空间。占地面积6.7mP,可测量及检测高达870mm的零部件-市场上系统/部件体积比的良好选择。</p>

产品标签

蔡司METROTOM1500 第三代CT系统 X射线技术 无损检测 更快扫描 3K探测器 高分辨率 小缺陷检测 大工件扫描 节省空间

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